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纳米材料: 薄膜厚度; 表面粗糙度; 表面形貌; 000000000000000000

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元素分析: 直读光谱仪; X射线透工业CT; 手持式X射线荧光光谱仪; x-ray镀层测厚仪; 全反射X射线荧光光谱仪; 微区X射线荧光光谱仪; XRF岩心扫描分析仪; 钻井信息采集管理

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太阳能/半导体: 薄膜应力量测仪; 硅片表面形貌/晶圆测量; 漆膜附着力测试; 电学特征

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硅片表面形貌测量VIT系列
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